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31.080.01 - Semiconductor devices in general

Showing 65–80 of 525 results

  • IEC 60749-20:2008

    IEC 60749-20:2008

    Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 20: Résistance des CMS…

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  • IEC 60749-20:2020

    IEC 60749-20:2020

    Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 20: Resistance of plastic encapsulated…

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  • IEC 60749-20-1:2019

    IEC 60749-20-1:2019

    Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 20-1: Handling, packing, labelling and…

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  • IEC 60749-20-1:2009

    IEC 60749-20-1:2009

    Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 20-1: Manipulation, emballage, étiquetage…

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  • IEC 60749-18:2002

    IEC 60749-18:2002

    Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 18: Rayonnements ionisants (dose…

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  • IEC 60749-18:2019

    IEC 60749-18:2019

    Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 18: Ionizing radiation (total dose)…

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  • IEC 60749-17:2019

    IEC 60749-17:2019

    Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 17: Neutron irradiation Published By…

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  • IEC 60749-17:2003

    IEC 60749-17:2003

    Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 17: Neutron irradiation Published By…

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  • IEC 60749-16:2003

    IEC 60749-16:2003

    Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 16 : détection de…

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  • IEC 60749-15:2020

    IEC 60749-15:2020

    Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 15: Résistance à la…

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  • IEC 60749-15:2010

    IEC 60749-15:2010

    Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 15: Resistance to soldering temperature…

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  • IEC 60749-14:2003

    IEC 60749-14:2003

    Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 14 : robustesse de…

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  • IEC 60749-13:2018

    IEC 60749-13:2018

    Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 13: Salt atmosphere Published By…

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  • IEC 60749-13:2002

    IEC 60749-13:2002

    Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 13: Atmosphère saline Published…

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  • IEC 60749-12:2017

    IEC 60749-12:2017

    Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 12: Vibration, variable frequency Published…

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  • IEC 60749-12:2002

    IEC 60749-12:2002

    Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques – Partie 12: Vibrations, fréquences variables…

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